| 試験 | 条件 | 結果 | |
|---|---|---|---|
| 発火 | 破裂 | ||
| 過充電 | 電流： 200 A 充電率： 250% 最大電圧： 20 V 狭着治具使用 |
なし | なし |
| 過放電 | 電流： 200 A 電圧： 0 V |
なし | なし |
| 外部短絡 | 短絡抵抗： 3 mΩ 雰囲気温度： 55 ℃ |
なし | なし |
過充電試験、過放電試験及び外部短絡試験のいずれにおいてもULTIMOは発火、破裂を認めず、優れた安全性を示しております。
20万サイクル経過後で、顕著な劣化は見られません。
（試験条件）充電：CC 100A, 3.8V / 放電：CC 100A, 2.2V / 休止無し
CLQ1100S1A(ラミネートセル1100F）
ULTIMOは、電気二重層キャパシタよりも高いセル電圧で使用することが可能かつ、優れた高温耐久性を有しています。これは、プレドープにより負極電位を下げることで、正極電位が高くなることを抑えた設計にしているためであり、同時に負極の劣化も抑制されるため、充放電サイクルを繰り返しても高い耐久性を有しています。
1000時間経過後で、顕著な劣化は見られません
（試験条件）印加電圧：3.8V / 雰囲気温度：70℃
CLQ1100S1A(ラミネートセル1100F）
ULTIMOは、電気二重層キャパシタよりも高いセル電圧で使用することが可能かつ、優れた高温耐久性を有しています。これは、プレドープにより負極電位を下げることで、正極電位が高くなることを抑えた設計にしているためであり、同時に負極の劣化も抑制されるため、充放電サイクルを繰り返しても高い耐久性を有しています。
※これらの試験結果は、それぞれ記載の試験条件の下で観察されたものであり異なる条件の下での同様の結果を保証するものではありません。
